Czytaj najnowsze artykuły:
29 października, 2018 @14:13
Szkoła i warsztaty dyfrakcji rentgenowskiej (XRD)
W dniach 8.10 do 9.10 Instytut Metalurgii Żelaza wraz z firmą Testchem zorganizował Szkołę i warsztaty XRD.W...
czytaj artykuł
24 października, 2018 @8:39
Analizator rtęci EMP-3
Firma Nippon Instruments Corporation, czołowy producent aparatury do oznaczania śladowych zawartości rtęci,...
czytaj artykuł
17 września, 2018 @14:06
MA-3 Solo – nowy analizator rtęci firmy Nippon Instruments Co.
Firma Nippon Instruments Corporation wprowadza na rynek nowy analizator śladowych zawartości rtęci o nazwie MA-3...
czytaj artykuł
6 lipca, 2018 @12:42
Wyniki III Ogólnopolskiej Olimpiady Krystalograficznej
W czasie 60. Konwersatorium Krystalograficznego, które odbyło się w dniach 27-29 czerwca 2018 roku, w Instytucie...
czytaj artykuł
26 marca, 2018 @10:40
Szkoła i warsztaty z fluorescencyjnej analizy rentgenowskiej i dyfrakcji rentgenowskiej
Zakład Chemii Analitycznej Instytutu Metalurgii Żelaza w Gliwicach oraz firma Testchem organizują w dniach 8-11...
czytaj artykuł
4 grudnia, 2017 @11:50
Analizator zawartości rtęci RA-4300 FG+
Bardzo niskie stężenia rtęci w roztworach wymagają stosowania techniki spektrometrii atomowo-fluorescencyjnej...
czytaj artykuł
29 listopada, 2017 @8:06
Nowa przystawka do analizatora zawartości rtęci EMP-2
Firma Nippon Instruments Corporation dodała nowe wyposażenie do analizatora rtęci w gazach typu EMP-2. Przystawka...
czytaj artykuł
27 listopada, 2017 @18:06
III Ogólnopolska Olimpiada Krystalograficzna
Komitet Krystalografii PAN ogłosił rozpoczęcie III Ogólnopolskiej Olimpiady Krystalograficznej dla studentów i...
czytaj artykuł