Kompaktowy spektrometr całkowitego odbicia TXRF
NanoHunter II, spektrometr całkowitego odbicia fluorescencyjnego promieniowania rentgenowskiego jest idealnym narzędziem, zwłaszcza pod względem prostego przygotowania próbek. Pomiar składu bardzo cienkiej warstwy o grubości kilku nanometrów stwarza możliwości analizy minimalnej ilości próbki proszkowej lub cieczy.Próbkę ciekłą nakrapia się na suchą powierzchnię podkładu szklanego za pomocą mikropipety i po wysuszeniu możliwa jest analiza pierwiastków śladowych, na poziome ppb. Koncentracja pierwiastków znajdujących się w cieczy wzrasta po wysuszeniu, a ślad na powierzchni pozwala na bardzo czułą analizę.Dzięki stosunkowo duzej mocy 600W uzyskuje się dużą intensywność promieniowania fluorescencyjnego i dobrą powtarzalność wyników analiz śladowych.
W przeciwieństwie do metody analizy chemicznej i optycznej spektrometrii emisyjnej ICP wymagających skomplikowanego przetwarzania przed analizą, takich jak roztwarzanie (mineralizacja), co u przypadku próbek z dużą zawartością związków organicznych wymaga czasu, w technice TXRF analizuje się próbki bez przygotowania.
| Lampa rentgenowska | Moc | 600W, chłodzona wodą |
| Anoda | Mo | |
| Metoda wzbudzenia | wiązka, monochromatyczna | |
| Generator | Napięcie | max. 50kV |
| Natężenie | max. 15mA | |
| Wiązka rentgenowska | Urządzenie spektralne | Syntetyczny wielowarstwowy monochromator,o dużej trwałości |
| Kąt padania | 0-2°, zmienny | |
| Detektor | Al-U | Półprzewodnikowy detektor SDD |
| Komora pomiarowa | Atmosfera | Powietrze lub przedmuch helem |
| Zmieniacz prób | 16-pozycyjny, obrotowy | |
| Maksymalna wielkość próbek | 26 x 76mm lub o średnicy 30 mm (inne rozmiary jako opcja) | |
| Przetwarzanie danych | Grubość próbki | 0,5 - 5,0mm |
| Średnica pomiarowa | φ 10mm |
Wymiary urządzenia
