Witryna używa plików cookies. Dowiedz się więcej. Zamknij

Seminarium WD XRF Rigaku

Firma Testchem wraz z Instytutem Metalurgii Żelaza w Gliwicach, mają przyjemność zaprosić Państwa, do udziału w seminarium na temat spektrometrii rentgenowskiej WD XRF. W pierwszym dniu seminarium odbędą się warsztaty skierowane do Użytkowników pracujących na urządzeniach firmy Rigaku. W ramach warsztatów odbędą się zajęcia praktyczne dotyczące oprogramowania analitycznego spektrometrów WD XRF. Zajęcia poprowadzi dr Uwe Schneider z laboratorium aplikacyjnego Rigaku Europe.

Miejsce warsztatów: Instytut Metalurgii Żelaza - 
ul. Miarki 12-14 
44-100 Gliwice

28 marca, wtorek
  • 11:00-17:00 Warsztaty WD XRF dla Użytkowników spektrometrów rentgenowskich firmy Rigaku           
    • przegląd i omówienie aplikacji zainstalowanych fabrycznie

    • opracowanie własnych aplikacji pomiarowych

    • przetwarzanie i analiza danych

    • funkcje dodatkowe i przydatne narzędzia w oprogramowaniu ZSX Primus

    UWAGA: liczba Uczestników w warsztatach jest ograniczona, ze względu na ilość miejsc.
  • ok. 19:00 Uroczysta kolacja - Hotel Laskowo, Jankowice

Dla Uczestników warsztatów, którzy przyjadą do Gliwic środkami transportu publicznego, organizatorzy seminarium zapewniają przejazd do Hotelu Laskowo.

Miejsce seminarium: Hotel Laskowo
 - ul. Raciborska 62 
47-430 Jankowice - 

http://www.laskowo.pl/konferencje



Program

28 marca, wtorek

  • 13:00-14:20 Rejestracja uczestników
  • 
14:20-14:30 Otwarcie seminarium

  • 14:30-15:15 Temat
  • 15:15-16:00 Temat
 - dr Beata Zawisza, Uniwersytet Śląski w Katowicach
  • 
16:00-16:15 Przerwa kawowa
  • 
16:15-16:35 Prezentacja firmy Testchem - Sebastian Machowski, Testchem
  • 
16:35-17:20 Problemy z metodą WD XRF, czyli zmagania z oprogramowaniem - dr inż. Katarzyna Stec, Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych w Gliwicach

  • 17:20-18:05 Analiza metali metodą XRF - dr inż. Tadeusz Gorewoda, Instytut Metali Nieżelaznych w Gliwicach
  • ok. 19:00 Uroczysta kolacja



29 marca, środa
  • 
09:00-09:45 Bezwzorcowa półilościowa analiza WD XRF - co analityk wiedzieć powinien? - dr Grażyna Stankiewicz, Instytut Metalurgii Żelaza w Gliwicach
  • 
09:45-10:30 Analiza roztworów metodą XRF z wykorzystaniem techniki cienkich warstw - mgr inż. Jacek Anyszkiewicz, Instytut Metali Nieżelaznych w Gliwicach
  • 
10:30-10:45 Przerwa kawowa

  • 10:45-11:30 Mapping i analiza nietypowych próbek - ZSX Primus IV - dr Tadeusz Glenc, Testchem
  • 
11:30-12:00 Spektrometr Supermini200 - Sebastian Machowski, Testchem
  • 
12:00-12:45 Oprogramowanie analityczne w spektrometrach firmy Rigaku - dr Uwe Schneider, Rigaku Europe
  • 
12:45-13:15 Spektrometr Nanohunter II (TXRF) firmy Rigaku - dr Tadeusz Glenc, Testchem
  • 
13:15-14:00 Zastosowanie techniki całkowitego odbicia (TXRF) do analizy próbek środowiskowych i biologicznych - dr Beata Ostachowicz, Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie
  • 
14:00 Zakończenie Seminarium - wręczenie certyfikatów
  • 
14:10 Obiad


Opłata seminaryjna

Koszt udziału w Seminarium i warsztatach pokrywają organizatorzy. Koszty związane dojazdem i zakwaterowaniem w Hotelu Laskowo, pokrywane są indywidualnie przez Uczestników Seminarium: pokój dwuosobowy - koszt 200,00 zł (jako jednoosobowy 162,00zł)

 Dla Uczestników warsztatów, którzy przyjadą do Gliwic samochodem, zapewnione będzie miejsce parkingowe na terenie Instytutu.

Rejestracja

Zgłoszenia prosimy przesyłać na adres: smachowski@testchem.pl w terminie do 01.03.2017. W razie pytań lub dodatkowych informacji związanych z Seminarium, uprzejmie prosimy o kontakt drogą elektroniczną (na adres podany powyżej) lub pod numer telefonu 32 42 455 88 90.